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日本东京精密表面粗糙度仪

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产品名称: 日本东京精密表面粗糙度仪
产品型号: 130A
产品厂商: 其它品牌
产品文档: 无相关文档
简单介绍
    

日本东京精密表面粗糙度仪操作简单,不需要操作手册可选择的“放大器”液晶触摸屏备有大画面TFT彩色和便宜的的黑白液晶。便于携带的小尺寸可在在现场环境下使用。分析参数与海外规格对应可任意选择JIS ISO DIN ASME CNOMO等规格

日本东京精密表面粗糙度仪 的详细介绍
日本东京精密表面粗糙度仪
操作简单,不需要操作手册可选择的“放大器”液晶触摸屏
= 备有大画面TFT彩色和便宜的的黑白液晶。
便于携带的小尺寸
= 可在在现场环境下使用。
分析参数与海外规格对应
=可任意选择JIS ISO DIN ASME CNOMO等规格
具有CE标志的安全设计
较高等较高等到直线度精度0.3mm/50mm!!
仅显示必要的图标
采用个性化功能,可以只选择使用频度高的图标,自由进行图标配置,由此来制作操作者专用的菜单,可进行高效率的测量作业。
仅输入图纸上的数值即可进行测量的AI功能(已获得专利)
装载有AI功能,只需要输入加工图纸上的所记载的参数及容放值的条件,便可以自动选择**的取样长度、测量范围等测量条件来进行测量
显示测量步骤的引导功能
此功能可显示测量程序,以便使初次使用测量机的人也能顺利进行操作。
用于数据整理的便利的记录功能
用触摸笔可以把记录画面上书写的简单图形、文字如实地记录并打印到记录纸上。
满足各种需求的多种多样分析功能
装载有Ra、Rz、Ry、Sm、 S、tp等共34种粗糙度、32种波纹度的分析参数。
可能进行电气零部件的段差、膜厚以及面积等的分析。
倾斜补偿功能
装载有直线、前半、后半、两端、R面、花键曲线(已获得专利等6种自动倾斜补偿功能。
评价范围的任意设定(已获得专利)
用2条光标选择画面上的波形数据由2,可设定任意的主价范围进行各参数的运算。
配备有PC卡插槽

日本东京精密表面粗糙度仪
可管理测量条件及测量结果,以二进制格式和文本格式输出测量数据。从电脑的PC卡插槽很容易读取。

型号
SURFCOM 130A

测量范围
X轴(横向)
50m
Y轴(纵向)
800mm(测量范围/分辩率:800mm/10nm、80mm/1nm、8mm/0.1nm)
直线度精度
0.3mm/50mm

 
分析项目
使用规格
JIS-2001,JIS-1994,JIS-1982,ISO-1997,ISO-1984.DIN-1990,ASME-1995,CNOMO规格
参数
Ra,Rq,Ry,Rp,Rv,Rc,Rz,Rmax.Rt,Rz.J.R3z.Sm.S.R△q.Rla.Rlq.
TLLTA.lr.Pc.Rsk.Rku.Rk.Rpk.Rvk.Mr1.Mr2.Vo.K.tp.Rmr.tp2.Rmr2.Rdc
AVH.Hmax.Hmin.AREA.NCRX.R.Rx.AR.NR.CPM.SR.SAR
评价曲线
剖面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波中心线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆中心线波纹度曲线、DIN4776特殊曲线、粗糙度中心曲线(Motif)、波纹度中心曲线(Motif)、包络波纹度曲线
表面特性图表
负荷曲线、功率谱曲线图、振幅分布曲线
倾斜补偿方式
直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、花键补偿、(直线、R面、两端补偿可以在任意范围内)
倍率
纵倍率(Z轴)
50、100、200、500、1K、2K、5K、10K、100K、200K*、500K*倍、自动
横倍(X轴)
1、2、5、10、20、50、100、200、500、1K、2K、自动
滤波器的种类
标准型滤波器2RC、相位补偿型滤波器2RC、相位补偿型滤波器(高斯滤波器)
测量速度
0.3、0.6、1..5  3mm/s(4速)
传感器
前端半径2mm、材质为金刚石、测量力为0.75mN

先进的功能
测量AI
装载有测量AI功能、即使初学者也可容易掌握
段差分析功能
最适于测量半导体零部件的膜厚及面积
PC卡
输出文本文件、将数据传送至电脑
标准配件
标准片E-MC-S24B、记录纸(E-CH-S21A)、触摸笔(E-MA-S54A)操作说明书

各要素
电源
AC100~240V±10%、50/60Hz、30VA
设置尺寸
700(W)*300(D)*150(H)mm
质量
8Kg
型号
SURFCOM 130A

测量范围
X轴(横向)
50m
Y轴(纵向)
800mm(测量范围/分辩率:800mm/10nm、80mm/1nm、8mm/0.1nm)
直线度精度
0.3mm/50mm

 
分析项目
使用规格
JIS-2001,JIS-1994,JIS-1982,ISO-1997,ISO-1984.DIN-1990,ASME-1995,CNOMO规格
参数
Ra,Rq,Ry,Rp,Rv,Rc,Rz,Rmax.Rt,Rz.J.R3z.Sm.S.R△q.Rla.Rlq.
TLLTA.lr.Pc.Rsk.Rku.Rk.Rpk.Rvk.Mr1.Mr2.Vo.K.tp.Rmr.tp2.Rmr2.Rdc
AVH.Hmax.Hmin.AREA.NCRX.R.Rx.AR.NR.CPM.SR.SAR
评价曲线
剖面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹度曲线、滤波中心线波纹度曲线、滚动圆波纹度曲线、滚动圆中心线波纹度曲线、DIN4776特殊曲线、粗糙度中心曲线(Motif)、波纹度中心曲线(Motif)、包络波纹度曲线
表面特性图表
负荷曲线、功率谱曲线图、振幅分布曲线
倾斜补偿方式
直线补偿、R面补偿、前半补偿、后半补偿、两端补偿、花键补偿、(直线、R面、两端补偿可以在任意范围内)
倍率
纵倍率(Z轴)
50、100、200、500、1K、2K、5K、10K、100K、200K*、500K*倍、自动
横倍(X轴)
1、2、5、10、20、50、100、200、500、1K、2K、自动
滤波器的种类
标准型滤波器2RC、相位补偿型滤波器2RC、相位补偿型滤波器(高斯滤波器)
测量速度
0.3、0.6、1..5  3mm/s(4速)
传感器
前端半径2mm、材质为金刚石、测量力为0.75mN

先进的功能
测量AI
装载有测量AI功能、即使初学者也可容易掌握
段差分析功能
最适于测量半导体零部件的膜厚及面积
PC卡
输出文本文件、将数据传送至电脑
标准配件
标准片E-MC-S24B、记录纸(E-CH-S21A)、触摸笔(E-MA-S54A)操作说明书

各要素
电源
AC100~240V±10%、50/60Hz、30VA
设置尺寸
700(W)*300(D)*150(H)mm
质量
8Kg


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